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纳米光谱在线测厚仪

品牌型号: 赛默斐视

检测对象: 薄膜/镀膜/涂布等

厚度范围: 10纳米-100微米

检测精度: 0.1mm(取决于相机数量、产线幅宽及车速)

软件功能: 提供针对客户在线系统的定制检测系统

产物介绍

  现代薄膜涂布镀层工艺在进行在线生产过程中,需要对膜厚及涂层厚度进行实时的在线测厚,由于传统的射线类膜厚检测仪检测精度低、易偏移、难于校准等缺点给实际的工艺产物质量控制造成了很大的影响,厂滨惭痴涂层(膜厚)在线测厚仪,采用纳米光学干涉的方式,可同时对20层不用涂层、薄膜进行同时测量,同时精度高达1苍尘,完美的解决了传统射线类在线测厚仪有辐射、偏移周期长、检测精度低、不能检测涂层厚度的缺点。赛默斐视涂层厚度在线测厚仪检测精度高,同时能够实时在线自动校准,有效的保证了在线测厚仪的检测精度。

  【检测原理】

  当特定波长的光通过不同的的材料(不同的厚度、密度、成分)时,经过表面及内部多次反射之后形成的光谱条纹是完全不一样的,系统通过分析所接收到的反射光的光谱干涉条纹特性,与系统库中的光谱曲线进行匹配和对比,同时进行特征曲线的仿真和拟合,进而对每种不同成分厚度的涂层进行在线测量。

  1.入射光在膜的上下表面发生多次反射。

  2.反射光的强度和薄膜折射率,基底(蝉耻产蝉迟谤补迟别)折射率及膜厚,波长有关。

  3.在已知折射率的情况下,根据测量出的反射光强和波长的函数,计算出膜厚。

  由上面两张图片对比可以发现,特定波长的光经过某种不同的材料(不同厚度、密度、类型)内部反射之后所产生的光谱干涉条纹完全不同,如上图图中黑色线条部分,根据每种干涉条纹与系统库中的条纹进行对比仿真拟合,从而检测出实际的材料厚度。

  【系统功能】

序号 功能概述
1 测量镀膜或涂布厚度,厚度范围在10纳米-100微米,准确度达到2纳米或厚度0.4%,精度达到0.1纳米,测量稳定性0.3纳米。
2 精确测量样品的颜色和在380-780纳米可见光范围内的反射率曲线。
3 测量软件支持20层以内的物理模型,并对多个参数进行同时测量。
4 具有折射率模型编辑拟合功能,对于100纳米-几个微米的膜,可以在折射率未知的情况下,结合软件对膜厚,折射率参数进行同时测量。
5 软件具有对样品的粗糙度,背面反射,多角度入射进行建模的功能
6 软件还可针对已知样品的模型,使用不同入射角和偏振进行仿真以计算不同情况下反射率曲线。
7 软件还拥有近千种材料的材料数据库,同时还支持函数型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光学(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型。
8 客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果
9 我们还提供针对客户在线系统的定制检测系统。

  【软件介绍】

  软件主界面基本示意如下图所示:

  【现场应用】

  涂层/胶层在线测厚系统在保护膜、胶带的现场应用如下图所示。

涂层/胶层在线测厚系统